MCDM LAB

Multifunctional Composite Design and Manufacturing Laboratory
번호 제목 등록번호 상태 등록일
159

Equipment and Method for monitoring the semiconductor packaging process using Terahertz wave

국제특허출원(PCT)

김학성, 김헌수, 김상일

PCT/KR2024/006737 Pending 2024.05.17
158

PLASMA PROCESS MONITORING APPARATUS USING TERAHERTZ WAVES AND MONITORING METHOD THEREOF

US Patent

김학성, 박동운, 김헌수, 김상일

18/647,096 Pending 2024.04.26
157

테라헤르츠파를 이용한 배터리 분리막 품질 검사 장치 및 방법

국내특허출원

김학성, 김헌수, 김상일, 김태완

10-2024-0027881 Pending 2024.02.27
156

테라헤르츠파를 이용한 폴리머 모니터링 장치 및 방법

국내특허출원

김학성, 김상일

10-2023-0182071 Pending 2023.12.14
155

Equipment and Method for monitoring the degree of crystallinity and water absorption condition of the polymer using Terahertz wave

PCT

김학성, 김상일, 박동운, 김헌수

PCT/KR2023/017459 Pending 2023.11.03