ACHIEVEMENT
번호 | 제목 | 등록번호 | 상태 | 등록일 |
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159 |
Equipment and Method for monitoring the semiconductor packaging process using Terahertz wave국제특허출원(PCT)김학성, 김헌수, 김상일 |
PCT/KR2024/006737 | Pending | 2024.05.17 |
158 |
PLASMA PROCESS MONITORING APPARATUS USING TERAHERTZ WAVES AND MONITORING METHOD THEREOFUS Patent김학성, 박동운, 김헌수, 김상일 |
18/647,096 | Pending | 2024.04.26 |
157 |
테라헤르츠파를 이용한 배터리 분리막 품질 검사 장치 및 방법국내특허출원김학성, 김헌수, 김상일, 김태완 |
10-2024-0027881 | Pending | 2024.02.27 |
156 |
테라헤르츠파를 이용한 폴리머 모니터링 장치 및 방법국내특허출원김학성, 김상일 |
10-2023-0182071 | Pending | 2023.12.14 |
155 |
Equipment and Method for monitoring the degree of crystallinity and water absorption condition of the polymer using Terahertz wavePCT김학성, 김상일, 박동운, 김헌수 |
PCT/KR2023/017459 | Pending | 2023.11.03 |