번호 제목 등록번호 상태 등록일
163

Equipment and Method for monitoring the polymer thin film using Terahertz wave

국제특허출원(PCT)

김학성, 김상일

PCT/KR2024/009844 Pending 2024.07.10
162

테라헤르츠 파를 이용한 플라즈마 공정 모니터링용 장치 및 방법

국내특허출원

김학성, 박동운, 김헌수, 김상일

10-2676683 Register 2024.06.14
161

다공성 펠리클 및 그 제조 방법

국내특허출원

안진호, 김학성, 김하늘, 김정연, 강영우 ,김헌수

10-2024-0075038 Pending 2024.06.10
160

Equipment and Method for monitoring the semiconductor packaging process using Terahertz wave

국제특허출원(PCT)

김학성, 김헌수, 김상일

PCT/KR2024/006737 Pending 2024.05.17
159

PLASMA PROCESS MONITORING APPARATUS USING TERAHERTZ WAVES AND MONITORING METHOD THEREOF

US Patent

김학성, 박동운, 김헌수, 김상일

18/647,096 Pending 2024.04.26