ACHIEVEMENT
번호 | 제목 | 등록번호 | 상태 | 등록일 |
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134 |
Measurement method for silicon nitride on silicon wafer using Terahertz waveUS Patent김학성, 박동운, 오경환, 김헌수 |
등록결정 | Pending | 2021.12.17 |
133 |
리플렉터 및 이를 포함하는 광소결 장치국내특허출원김학성, 유충현, 장용래, 문창진, 추지현, 박종휘 |
10-2328781 | Register | 2021.11.16 |
132 |
고체산화물 연료전지 또는 고체산화물 수전해전지의 제조 방법국내특허등록김학성, 정완호, 김영범, 박준식 |
10-2327262 | Register | 2021.11.11 |
131 |
샌드위치 구조물 및 그 제조 방법국내특허출원김학성, 이지석, 유명현, 엄희진, 김헌수 |
10-2021-0147675 | Pending | 2021.11.01 |
130 |
THICKNESS MEASURING DEVICEUS특허출원김학성, 오경환, 박동운, 김헌수 |
17/607,952 | Pending | 2021.11.01 |